Аналитические услуги

Stanford Advanced Materials (SAM) предлагает комплексные аналитические услуги, включая контроль размеров, испытания на электропроводность и определение размера зерна. Наша передовая лаборатория оснащена самыми современными приборами для проведения таких тестов, как GDMS, ICP-MS и ICP-OES.

Мы также проводим испытания механических свойств с помощью СЭМ, ТЭМ и рентгеноструктурного анализа (XRD), обеспечивая точное понимание поведения материалов. Приверженность качеству и точности делает SAM вашим надежным партнером в предоставлении услуг по тестированию и анализу.

ПОЛНЫЙ СПИСОК УСЛУГ

Контроль размеров

Контроль размеров обеспечивает точное измерение и проверку размеров компонентов на соответствие точным спецификациям.

Испытание электропроводности

Испытания на электропроводность измеряют способность материалов проводить электрический ток, обеспечивая оптимальную производительность в электрических приложениях.

GDMS

GDMS (Glow Discharge Mass Spectrometry) обеспечивает точный элементный анализ твердых материалов, определяя следовые и объемные элементы для контроля качества и проверки материалов.

Определение размера зерна

Определение размера зерна анализирует микроструктуру материалов для оценки размера зерна, влияющего на прочность и эксплуатационные характеристики материала.

ICP-MS

ICP-MS (масс-спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой) - это высокочувствительный метод, используемый для обнаружения и количественного определения микроэлементов в различных материалах.

ICP-OES

ICP-OES (оптико-эмиссионная спектроскопия с индуктивно-связанной плазмой) - это метод, используемый для точного обнаружения и анализа нескольких элементов в образце с помощью светового излучения.

Механические свойства

Испытания на механические свойства оценивают прочность, упругость, твердость и долговечность материала, чтобы убедиться в его соответствии эксплуатационным требованиям.

SEM

СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) позволяет получать детальные изображения поверхностей материалов при большом увеличении для точного структурного анализа.

TEM

ТЭМ (просвечивающая электронная микроскопия) позволяет получать изображения структур материалов с высоким разрешением на атомном уровне для глубокого анализа.

Анализ рентгеновской дифракции (XRD)

Анализ методом рентгеновской дифракции (XRD) позволяет определить кристаллическую структуру материалов, что дает представление о фазовом составе и свойствах материалов.

*Клиенты, которые покупают нашу продукцию, получают выгоду от 1. сниженных цен 2. ускоренного обслуживания.

Вам нужна помощь? У вас есть вопросы? Обратитесь к одному из наших технических экспертов.

* Ваше имя

Название компании

* Ваш e-mail

* Страна

Россия

* Ваш телефон

* Комментарии

Приложите чертежи:

Храните файлы здесь или

Принимаются файлы в форматах PDF, png, jpg, jpeg; если загружается сразу несколько файлов, каждый из них должен быть меньше 2 МБ..

ЗАПРОСИТЬ ЦИТАТУ

Отправьте нам запрос сегодня, чтобы узнать больше и получить актуальные цены. Спасибо!

*Ваше имя

*Ваш e-mail

Для оперативной обработки просьба использовать адрес электронной почты вашей компании.

*Название продукта

*Ваш телефон

*Страна

Россия

Комментарии

Я хотел бы подписаться на рассылку, чтобы получать новости от Stanford Advanced Materials.

Приложите чертежи:

Храните файлы здесь или

*Проверочный код

Принимаемые форматы файлов: PDF, PNG, JPG, JPEG. При одновременной отправке нескольких файлов размер каждого файла должен быть менее 2 МБ.

ПОЛНЫЙ СПИСОК УСЛУГ

Вам нужна помощь? У вас есть вопросы? Обратитесь к одному из наших технических экспертов.

ОСНОВНЫЕ МАТЕРИАЛЫ (НЕ ОГРАНИЧИВАЯСЬ ИМИ)

ЗАПРОСИТЬ ЦИТАТУ

НУЖНА ПОМОЩЬ?

НАША КОМПАНИЯ

ПОПУЛЯРНЫЕ КАТЕГОРИИ