CY2300 Подложки для кристаллов фторида лития (LiF)

Каталог нет.	CY2300
Размеры	5x5 мм, 10x10 мм, Dia1"(25.4 мм), Dia4"(100 мм)
Материал	LiF
Толщина	0,5 мм, 1,0 мм, 2,0 мм, 5,0 мм

Stanford Advanced Materials (SAM) предлагает кристаллические LiF-подложки и предоставляет клиентам широчайший выбор LiF-материалов с высокой однородностью электрических свойств и отличным качеством поверхности.

Сопутствующие товары: Кристаллическая подложка KTaO3, Кристаллическая подложка LAST, Кристаллическая подложка LiAlO2, Кристаллическая подложка NdGaO3, Монокристаллическая подложка антимонида галлия.

Запрос

Описание

Технические характеристики

Отзывы

ПОСЛЕДНЯЯ РЕКОМЕНДАЦИЯ

NR2172 Пластина из нитрида галлия

Сапфировая пластина CY2173

Кремниевая пластина CY2174

Пластина из карбида кремния CY2175

SC2275 Кремниевая термооксидная пластина

SC2276 SOI Wafer

Подложки для пластин из оксида цинка ZN2277

Potassium Tantalate (KTaO3) Crystal Substrates

CY2298 Танталат калия (KTaO3) Кристаллические субстраты

Кристаллические подложки CY2299 LSAT

ЗАПРОСИТЬ ЦЕНУ

Отправьте нам запрос сегодня, чтобы узнать больше и получить актуальные цены. Спасибо!

* Ваше имя

* Ваш e-mail

Для оперативной обработки просьба использовать адрес электронной почты вашей компании.

* Название продукта

* Ваш телефон

* Страна

Россия

Комментарии

Я хотел бы подписаться на рассылку, чтобы получать новости от Stanford Advanced Materials.

Приложите чертежи:

Храните файлы здесь или

* Проверочный код

Принимаемые форматы файлов: PDF, PNG, JPG, JPEG. Можно отправить несколько файлов одновременно. Размер каждого файла не должен превышать 2 МБ.

Основные рабочие параметры
Структура кристалла	Кубическая
Константа решетки	4.02 A
Плотность	2,65 (^г/см3)
Температура плавления	884 °C
Метод выращивания	Бриджмен
Твердость по Моосу	3 Мооса
Коэффициент теплового расширения	3,195 x ^10-6/°C//c
Показатель преломления	No=1,394; Ne=1,394
Полоса пропускания	0.11-6.5um
Стандартная ориентация	<100>, <110>, <111>
Стандартный размер	5x5mm, 10x10mm, Dia1"(25.4mm), Dia4"(100mm) Или в соответствии с требованиями заказчика
Стандартная толщина	0.5 мм, 1.0 мм, 2.0 мм, 5.0 мм
Применение кристалла LiF	ИК и УФ окна, призмы и подложки
Полировка	Односторонняя полировка или двухсторонняя полировка
Качество поверхности	Эпиполированная (шероховатость: Ra<5A (5 x 5um)) Оптическая полировка (качество поверхности: 60-40, 40-20 или др.)

Основные параметры работы
Кристаллическая структура	Кубическая
Константа решетки	4.02 A
Плотность	2,65 (^г/см3)
Температура плавления	884 °C
Метод выращивания	Бриджмен
Твердость по Моосу	3 Мооса
Коэффициент теплового расширения	3,195 x ^10-6/°C//c
Показатель преломления	No=1,394; Ne=1,394
Полоса пропускания	0.11-6.5um
Стандартная ориентация	<100>, <110>, <111>
Стандартный размер	5x5mm, 10x10mm, Dia1"(25.4mm), Dia4"(100mm) Или в соответствии с требованиями заказчика
Стандартная толщина	0.5 мм, 1.0 мм, 2.0 мм, 5.0 мм
Применение кристалла LiF	ИК и УФ окна, призмы и подложки
Полировка	Односторонняя полировка или двухсторонняя полировка
Качество поверхности	Эпиполированная (шероховатость: Ra<5A (5 x 5um)) Оптическая полировка (качество поверхности: 60-40, 40-20 или др.)

CY2300 Подложки для кристаллов фторида лития (LiF)

Описание подложек для кристаллов фторида лития

Технические характеристики подложек на основе фтористо-литиевых кристаллов

Применение подложек для кристаллов фторида лития

Упаковка подложек для кристаллов фторида лития (LiF)

Вопросы и ответы

Q3 Подходят ли LiF-подложки для применения в рентгеновском и ВУФ-излучении?

Технические характеристики

SDS

Случай

ОТЗЫВЫ КЛИЕНТОВ

ПОСЛЕДНЯЯ РЕКОМЕНДАЦИЯ

ЗАПРОСИТЬ ЦЕНУ

НУЖНА ПОМОЩЬ?

НАША КОМПАНИЯ

ПОПУЛЯРНЫЕ КАТЕГОРИИ