AL10241 Сапфировая пластина Al2O3 C-плоскость (0001) 5x5x0.5 мм

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 5x5x0.5 мм Описание

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 5x5x0,5 мм производится из монокристаллического оксида алюминия (Al2O3) и имеет ориентацию (0001). Размеры 5 мм x 5 мм и толщина 0,5 мм поддерживают интеграцию в процессы сборки полупроводников и оптических приборов. Определенная кристаллографическая ориентация обеспечивает гладкую поверхность и пониженную плотность дислокаций. Продукт характеризуется контролируемыми условиями роста, что подтверждается рентгеновской дифракцией и профилометрией поверхности.

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 5x5x0,5 мм Применение

1.Электроника
- Используется в качестве подложки в интегральных схемах для достижения однородных диэлектрических свойств за счет точной кристаллографической ориентации и плоской поверхности.
- Применяется в качестве изолирующего слоя в микроэлектронных устройствах для минимизации электрических помех благодаря стабильной структуре Al2O3.

2.Оптика
- Служит в качестве оптического окна в лазерных системах для поддержания четкости и стабильности благодаря низкой плотности дефектов.
- Используется в фотонных устройствах в качестве основного материала для снижения потерь на рассеяние и улучшения общей производительности устройства.

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 5x5x0.5 мм Упаковка

Каждая сапфировая пластина индивидуально запечатана в антистатический пакет и помещена в мягкий контейнер для предотвращения механических повреждений и загрязнений. В упаковке используются вставки из пенопласта для ограничения попадания частиц. Хранить в среде с контролируемой температурой и влажностью для сохранения целостности материала. Для удовлетворения особых требований к обращению и хранению доступны индивидуальные варианты упаковки, включая дополнительную маркировку и разделение на отсеки.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Как ориентация C-плоскости влияет на обработку пластин?
A1: Ориентация C-плоскости (0001) обеспечивает однородную и атомарно гладкую поверхность, что способствует точности процессов литографии и осаждения за счет снижения плотности дислокаций. Такая ориентация обеспечивает согласованность последующих этапов изготовления устройств.

Q2: Какие меры контроля качества используются при производстве пластин?
A2: Контроль качества включает в себя рентгеновскую дифракцию (XRD) для проверки кристаллографической ориентации и профилометрию поверхности для оценки плоскостности и уровня дефектов. Эти тесты подтверждают, что пластины соответствуют строгим спецификациям, необходимым для полупроводниковых приложений.

Q3: Можно ли изменить размеры или толщину пластины?
A3: Возможно изготовление по индивидуальному заказу в зависимости от производственных возможностей. Конкретные изменения размеров или толщины требуют обсуждения целесообразности процесса и соответствующих изменений в контроле качества.

Дополнительная информация

Сапфир, являющийся разновидностью монокристалла Al2O3, играет важную роль в материаловедении благодаря своей химической инертности, высокой термической стабильности и отличным электроизоляционным свойствам. Твердая и стабильная структура делает его привлекательной подложкой для высокоточных приложений в полупроводниковой и оптической промышленности.

Понимание последствий кристаллографической ориентации сапфировых пластин необходимо для оптимизации работы устройств. Подробные методы определения характеристик, такие как рентгенография и профилометрия поверхности, обеспечивают соответствие этих подложек строгим стандартам, необходимым для передовых производственных процессов.