AL10243 Сапфировая пластина Al2O3 C-плоскость (0001) 1 дюйм x 1 дюйм x 0,5 мм

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 1 дюйм x 1 дюйм x 0,5 мм Описание

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 1 дюйм x 1 дюйм x 0,5 мм - это высокочистая подложка, вырезанная из оксида алюминия с определенной (0001) кристаллографической ориентацией. Размер 1 дюйм на 1 дюйм при толщине 0,5 мм обеспечивает совместимость со стандартным технологическим оборудованием. Контролируемая обработка поверхности способствует эпитаксиальному росту и минимизирует плотность дефектов. Присущая им оптическая прозрачность облегчает точный контроль поверхности и проверку качества в процессе производства полупроводников.

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 1 дюйм x 1 дюйм x 0,5 мм Применение

Электроника
- Используется в качестве подложки при изготовлении светодиодов для достижения равномерного излучения света за счет использования поверхности C-плоскости с минимальным количеством дефектов.
- Применяется в качестве базового слоя в микроволновых схемах для снижения потерь сигнала за счет низких диэлектрических потерь.

Промышленность
- Используется в качестве изоляционного барьера в силовой электронике для снижения тепловой деградации за счет высокой термостойкости.
- Применяется в качестве защитного слоя в сборках датчиков для уменьшения окисления за счет химической инертности материала.

Сапфировая пластина Al2O3 C-plane (0001) 1 дюйм x 1 дюйм x 0,5 мм Упаковка

Пластина помещена в антистатический, пылезащищенный контейнер с пенопластовой прокладкой для минимизации механических воздействий. Она запечатывается в пакет с контролем влажности и хранится при температуре окружающей среды для предотвращения загрязнения и сохранения целостности поверхности. Для сред, требующих строгого контроля частиц и отслеживания, предлагаются дополнительные пакеты с вакуумной герметизацией и индивидуальная маркировка.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие методы использует компания SAM для проверки плоскостности пластин и плотности дефектов?
A1: SAM использует оптическую микроскопию в сочетании с интерферометрическим анализом для точной количественной оценки плоскостности поверхности и выявления микродефектов. Эти измерения позволяют получить данные, необходимые для поддержания однородности, требуемой в последующих процессах производства полупроводников.

Q2: Как ориентация в плоскости C (0001) влияет на производительность подложки?
A2: Ориентация в C-плоскости (0001) обеспечивает однородную структуру решетки, что способствует равномерному эпитаксиальному росту пленки и минимизирует поверхностные дефекты. Такая ориентация способствует снижению потерь на рассеяние при оптическом контроле и повышает точность обработки.

Q3: Можно ли изменить размеры пластин для совместимости с конкретным оборудованием?
A3: Размеры пластин могут быть изменены в зависимости от технологических требований. Конкретные запросы, касающиеся диаметра или толщины, рассматриваются для обеспечения того, чтобы параметры роста кристаллов и однородность процесса оставались в допустимых пределах. Рекомендуется согласование с технической группой SAM.

Дополнительная информация

Сапфировые подложки, состоящие из оксида алюминия (Al2O3), широко используются в обработке полупроводников благодаря своей превосходной теплопроводности и химической инертности. Их уникальные кристаллографические свойства способствуют равномерному осаждению эпитаксиальных слоев, что делает их пригодными для высокоточных применений, где качество поверхности имеет решающее значение.

Последние достижения в области методов выращивания кристаллов и анализа поверхности расширили возможности применения сапфировых подложек в электронике и оптоэлектронике. Эти подложки служат как структурными, так и изоляционными компонентами, поддерживая миниатюризацию устройств и улучшая их характеристики в высокотемпературных и высокочастотных средах.