CY10314 Высокоориентированная кристаллическая подложка из теллурида висмута Bi2Te3 (0001) неправильной формы (около 10x10x0.1 мм)

Подложка высокоориентированного кристалла теллурида висмута Bi2Te3 (0001) неправильной формы (около 10x10x0.1 мм) Описание

Подложка изготовлена из высокочистого теллурида висмута (Bi2Te3) с тщательно контролируемой кристаллографической ориентацией (0001). Ее неправильная геометрия, примерно 10x10x0,1 мм, облегчает интеграцию в специализированные экспериментальные установки. Детальный анализ рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии подтверждает низкую плотность дефектов и четко определенную морфологию поверхности, что обеспечивает соответствие строгим требованиям оценки термоэлектрических устройств и исследований электронных материалов.

Высокоориентированная кристаллическая подложка из теллурида висмута Bi2Te3 (0001) неправильной формы (около 10x10x0,1 мм) Применение

Термоэлектрические системы
- Используется в качестве активного компонента в термоэлектрических модулях для достижения эффективного преобразования тепла в электричество за счет точной ориентации (0001) и собственной теплопроводности.

Исследования в области электроники и полупроводников
- Применяется в качестве подложки для изготовления электронных устройств с целью изучения явлений переноса заряда благодаря использованию четко определенной фазы Bi2Te3 и низкодефектной структуры.

Подложка высокоориентированного кристалла теллурида висмута Bi2Te3 (0001) неправильной формы (около 10x10x0.1 мм) Упаковка

Подложка надежно упакована в антистатический контейнер с пенопластовой прокладкой для предотвращения механических повреждений при транспортировке. Она запечатана во влагонепроницаемый пакет для защиты от загрязнений и колебаний окружающей среды. Рекомендуется хранить в помещении с контролируемой температурой и влажностью. Индивидуальные упаковочные решения, включая специальную маркировку и разделение на отсеки, доступны для удовлетворения строгих лабораторных требований.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие аналитические методы используются для подтверждения ориентации (0001)?
A1: Дифракция рентгеновских лучей (XRD) и дифракция обратного рассеяния электронов (EBSD) обычно используются для определения кристаллографической ориентации и однородности подложки, что гарантирует правильное выравнивание плоскостей (0001).

Q2: Как следует обращаться с этой подложкой и хранить ее, чтобы сохранить целостность поверхности?
A2: При работе с подложкой следует соблюдать антистатические меры предосторожности и хранить ее в контролируемой среде со стабильной температурой и низкой влажностью, чтобы исключить загрязнение поверхности и механические нагрузки.

Q3: Возможна ли адаптация размеров подложки для конкретных экспериментальных установок?
A3: Варианты настройки могут быть рассмотрены на основе производственной целесообразности. Модификации проверяются на соответствие критериям контроля качества для сохранения кристаллографической целостности и однородности поверхности.

Дополнительная информация

Теллурид висмута (Bi2Te3) - выдающийся термоэлектрический материал, отличающийся слоистой структурой и анизотропными электрическими свойствами. Его точная кристаллографическая ориентация играет решающую роль в оптимизации тепловой и электрической проводимости, что необходимо для чувствительных термоэлектрических измерений и изготовления электронных устройств.

Совершенствование методов выращивания кристаллов и контроля качества позволило снизить плотность дефектов в подложках Bi2Te3. Этот прогресс не только повышает производительность в таких приложениях, как преобразование тепловой энергии, но и способствует более глубокому пониманию взаимосвязи структуры и свойств в низкоразмерных материалах, стимулируя инновации в исследованиях в области материаловедения.