CY10321 Односторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1.0 мм

Односторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1.0 мм Описание

Изготовленная из высокочистого фторида кальция (CaF2), эта подложка имеет кристаллографическую ориентацию (100) с одной стороны, отполированной для получения тонкой поверхности. Ее размеры 10x10 мм и толщина 1,0 мм обеспечивают совместимость со стандартными процессами обработки полупроводников и оптическими сборками. Контролируемый процесс роста кристаллов сводит к минимуму количество включений, а усовершенствованный метод полировки повышает плоскостность поверхности, что благоприятно сказывается на применении в фотолитографии и прецизионных оптических системах.

Односторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1,0 мм Применение

Электроника и полупроводниковые приборы
- Используется в качестве оптического окна в системах контроля полупроводников для достижения стабильного светопропускания за счет низкого коэффициента преломления и определенной плоскостности.

Оптические приборы
- Используется в качестве подложки в компонентах лазерной сборки для поддержания качества луча за счет контролируемой полировки поверхности и стабильности размеров.

Односторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1,0 мм Упаковка

Подложка индивидуально упакована в антистатический мягкий носитель для уменьшения механических ударов и риска загрязнения. Она хранится во влагонепроницаемой упаковке в среде с контролируемой температурой. Для улучшения сохранности поверхности могут применяться дополнительные меры, такие как продувка инертным газом. Для удовлетворения особых требований к хранению и обращению доступны нестандартные варианты упаковки, включая вкладыши с отделениями и специальную маркировку.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие меры контроля качества проверяют однородность поверхности подложки?
A1: В процессе производства SAM использует интерферометрическую метрологию поверхности и оптические измерения плоскостности. Эти меры обеспечивают соблюдение строгих допусков на размеры полированной поверхности, необходимых для прецизионных оптических и полупроводниковых приложений.

Q2: Как ориентация (100) влияет на функциональность подложки?
A2: Кристаллографическая ориентация (100) обеспечивает постоянное выравнивание структуры, что необходимо для равномерного осаждения пленки и точных оптических характеристик при изготовлении устройств.

Q3: Какие условия хранения помогают сохранить целостность подложки?
A3: Рекомендуется хранить подложку в условиях низкой влажности и контролируемой температуры, используя антистатическую упаковку. Это предотвращает поглощение влаги и минимизирует риск физического повреждения.

Дополнительная информация

Подложки из фторида кальция (CaF2) являются неотъемлемой частью оптических систем благодаря их способности пропускать волны от ультрафиолетового до инфракрасного диапазона с минимальной дисперсией. Их уникальная кристаллическая структура обеспечивает низкое двулучепреломление и высокую химическую инертность, что делает их пригодными для прецизионных фотонных приложений. Недавние усовершенствования методов выращивания кристаллов и полировки поверхности повысили воспроизводимость и производительность этих подложек.

Достижения в области определения характеристик поверхности и метрологии еще более усовершенствовали производственные протоколы, обеспечив соответствие физических размеров и качества поверхности строгим требованиям оптической и полупроводниковой промышленности. Эти разработки способствуют улучшению характеристик устройств и расширению возможностей их применения как в исследовательских, так и в производственных условиях.