CY10325 Двухсторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1.0 мм

Двухсторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1,0 мм Описание

Двухсторонняя полированная подложка для кристаллов фтористого кальция CaF2 (100) 10x10x1.0 мм изготовлена из CaF2 с кристаллографической ориентацией (100) и полированными с обеих сторон поверхностями. Размер 10x10 мм при постоянной толщине 1,0 мм обеспечивает совместимость со стандартным технологическим оборудованием. Низкое поглощение и высокое пропускание делают его подходящим для сложных оптических приложений и полупроводниковых процессов, а двухсторонняя полировка минимизирует рассеяние, способствуя улучшению оптических характеристик.

Двухсторонняя полировка кристаллической подложки фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1,0 мм Применение

Оптические приборы
- Используется в качестве подложки в системах линз для достижения уменьшения рассеяния света за счет использования двухсторонней полировки поверхности.
- Применяется в качестве компонента в интерферометрических установках для достижения улучшенной однородности волнового фронта за счет использования высокой степени плоскостности.

Производство полупроводников
- Используется в качестве носителя пластин в технологическом оборудовании для обеспечения контроля загрязнения благодаря химической инертности CaF2.
- Применяется при изготовлении датчиков для поддержания стабильности и предотвращения аномалий поверхности за счет использования его гладкой, полированной поверхности.

Двухсторонняя полированная подложка для кристаллов фторида кальция CaF2 (100) 10x10x1.0 мм Упаковка

Подложки индивидуально упакованы в антистатические пенопластовые контейнеры и запаяны во влагостойкий пластик для защиты от механических повреждений и загрязнения окружающей среды. Рекомендуется хранить подложки в условиях контролируемой температуры и влажности. Для приложений, требующих строгих условий обращения и хранения, предлагаются индивидуальные упаковочные решения, включая вакуумное уплотнение и разделение на специальные отсеки.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие методы контроля поверхности используются для оценки качества подложки?
A1: SAM использует электронную микроскопию для проверки плоскостности поверхности и выявления дефектов, вызванных полировкой, что гарантирует соответствие подложки требуемым допускам для оптических характеристик.

Вопрос 2: Как двухсторонняя полировка влияет на оптические свойства подложки?
A2: Двухсторонняя полировка минимизирует рассеяние и улучшает однородность проходящего света, что крайне важно для точных измерений в интерферометрии и оптических датчиках.

Q3: Какие условия хранения рекомендуются для этих кристаллических подложек?
A3: Подложки следует хранить в сухом помещении с контролируемой температурой в антистатической упаковке для предотвращения поглощения влаги и загрязнения поверхности.

Дополнительная информация

Фторид кальция (CaF2) обладает превосходной оптической прозрачностью и химической инертностью, что очень важно для передовых оптических и полупроводниковых приложений. Его кристаллические свойства и контролируемая ориентация уменьшают рассеяние света, тем самым оптимизируя работу оптических систем высокого разрешения.

Использование подложек CaF2 в современных устройствах способствует повышению стабильности и функциональности таких систем, как линзы, лазеры и интерферометры. Постоянное совершенствование методов полировки и обработки поверхности продолжает улучшать характеристики этих подложек, подчеркивая их значение для прецизионной оптической техники и исследовательских приложений.