CY10348 Односторонняя полированная подложка для кристаллов дигидрогенфосфата калия KH2PO4 (100) 10x5x1.0 мм

Кристаллическая подложка с односторонней полировкой из дигидрогенфосфата калия KH2PO4 (100) 10x5x1.0 мм Описание

Изготовленная из высокочистого дигидрогенфосфата калия (KH2PO4), эта подложка имеет одностороннюю полировку, которая уменьшает оптическое рассеяние и повышает прозрачность. Размеры 10 мм x 5 мм x 1,0 мм позволяют интегрировать ее в стандартные оптические и фотонные системы. Указанная кристаллографическая ориентация (100) облегчает контролируемый эпитаксиальный рост слоев, обеспечивая однородные свойства интерфейса для лазерных и нелинейно-оптических приложений.

Односторонне полированная подложка из кристаллов дигидрогенфосфата калия KH2PO4 (100) 10x5x1,0 мм Применение

Оптические системы
- Используется в качестве подложки в нелинейно-оптических устройствах для уменьшения рассеяния и улучшения распространения луча за счет односторонней полировки.
- Применяется в компонентах лазерной стабилизации для достижения точной модуляции света за счет стабильно плоской поверхности.

Обработка полупроводников
- Используется в качестве платформы для эпитаксиального роста пленок при изготовлении фотонных устройств для достижения равномерного осаждения слоев за счет использования кристаллографической ориентации (100).
- Используется в качестве диагностического интерфейса в сборках оптических датчиков для повышения точности измерений за счет контролируемой шероховатости поверхности.

Односторонне полированная подложка кристалла дигидрогенфосфата калия KH2PO4 (100) 10x5x1.0 мм Упаковка

Подложки упакованы поштучно в антистатические контейнеры и обернуты пленкой для чистых помещений для защиты от механических повреждений и загрязнений. Влагонепроницаемые пакеты дополнительно защищают устройство во время транспортировки. Упаковка предназначена для хранения в сухом помещении с контролируемой температурой, обеспечивая сохранность односторонней полированной поверхности. Возможны нестандартные варианты упаковки в зависимости от конкретных требований к транспортировке.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие меры контроля качества применяются для проверки плоскостности полированной поверхности?
A1: Для оценки полированной поверхности SAM использует оптическую профилометрию и микроскопию высокого разрешения. Этот процесс помогает обнаружить микроскопические неровности и гарантирует, что подложка соответствует строгим критериям плоскостности для оптических применений.

Q2: Как ориентация (100) влияет на производительность подложки при изготовлении устройств?
A2: Ориентация (100) обеспечивает однородную кристаллографическую структуру, которая поддерживает контролируемый эпитаксиальный рост. Это минимизирует дефекты в последующих слоях и повышает стабильность характеристик оптических и фотонных устройств.

Q3: Какие условия хранения рекомендуются для сохранения качества поверхности подложки?
A3: Рекомендуется хранить подложку в сухой, контролируемой по температуре среде в антистатической упаковке. Это минимизирует попадание влаги и твердых частиц, сохраняя целостность полированной поверхности.

Дополнительная информация

Дигидрогенфосфат калия (KH2PO4) широко изучается с точки зрения его оптических свойств и является важнейшим материалом при изготовлении подложек для фотонных приложений. Его кристаллографическая ориентация, особенно (100), играет важную роль в определении характеристик роста эпитаксиальных пленок и влияет на производительность устройств, контролируя свойства интерфейса.

В области материаловедения для оценки однородности полированных подложек необходимы строгие методы контроля качества, такие как оптическая профилометрия, микроскопия и метрология поверхности. Эти методы обеспечивают соответствие подложек строгим техническим требованиям, что способствует прогрессу в производстве оптических приборов и научных исследованиях.