{{flagHref}}
Продукция
  • Продукция
  • Категории
  • Блог
  • Подкаст
  • Приложение
  • Документ
|
|
/ {{languageFlag}}
Выберите язык
Stanford Advanced Materials {{item.label}}
Stanford Advanced Materials
Выберите язык
Stanford Advanced Materials {{item.label}}
Пожалуйста, начните говорить

CY11152 Стекло с медным покрытием

Каталог нет. CY11152
Материал Медь, боросиликат
Чистота Cu: ≥99.999%
Форма Субстрат

Copper Coated Glass - это подложка с медной пленкой, нанесенной на стекло для использования в качестве полупроводникового сырья. Stanford Advanced Materials (SAM) использует методы напыления и химического осаждения из паровой фазы для формирования медного слоя. Контроль качества включает в себя оптический контроль и профилометрию для проверки однородности пленки и адгезии. Эти меры обеспечивают стабильные свойства пленки, отвечающие электрическим и размерным критериям, необходимым для обработки полупроводников.

Запрос
Добавить в сравнение
Описание
Технические характеристики
Отзывы

FAQ

Какие преимущества дает медное покрытие на стеклянных подложках при обработке полупроводников?

Медный слой улучшает электропроводность и способствует равномерному распределению тока во время металлизации. Он служит эффективным начальным слоем, снижающим вариативность прилипания последующих металлических слоев. Эти характеристики имеют решающее значение для поддержания однородности процесса при производстве полупроводников. За более подробной информацией обращайтесь к нам.

Как процесс осаждения влияет на адгезионные свойства медного слоя на стекле?

Процесс осаждения откалиброван для контроля толщины пленки и поверхностной энергии, что способствует прочному сцеплению медной пленки со стеклянной подложкой. Это снижает риск расслоения при термических и механических нагрузках, возникающих на этапах обработки. Для получения дополнительной информации свяжитесь с нами.

Какие методы контроля качества применяются в процессе нанесения медного покрытия?

Контроль качества включает в себя оптический контроль и измерение толщины с помощью профилометрии. Эти методы проверяют однородность пленки и выявляют дефекты перед дальнейшей обработкой, гарантируя соответствие подложек установленным допускам, необходимым для применения в полупроводниках. Для получения дополнительной информации свяжитесь с нами.

ЗАПРОСИТЬ ЦЕНУ

Отправьте нам запрос сегодня, чтобы узнать больше и получить актуальные цены. Спасибо!

* Ваше имя
* Ваш e-mail
* Название продукта
* Ваш телефон
* Страна

Россия

    Комментарии
    Я хотел бы подписаться на рассылку, чтобы получать новости от Stanford Advanced Materials.
    Приложите чертежи:

    Храните файлы здесь или

    * Проверочный код
    Принимаемые форматы файлов: PDF, PNG, JPG, JPEG. Можно отправить несколько файлов одновременно. Размер каждого файла не должен превышать 2 МБ.
    Оставьте сообщение
    Оставьте сообщение
    * Ваше имя:
    * Ваш e-mail:
    * Название продукта:
    * Ваш телефон:
    * Комментарии: