CY9443 Алюминиевая монокристаллическая подложка (111), 10x10x1 мм, SSP

Подложка алюминиевая монокристаллическая (111), 10x10x1 мм, SSP Описание

Подложка размером 10x10x1 мм изготовлена из монокристаллического алюминия с ориентацией (111). Ее однородная структура сводит к минимуму дефекты, обеспечивая высокоточное выравнивание в экспериментальных установках. Контролируемая ориентация кристаллов способствует проведению расширенного анализа при изготовлении полупроводников и исследовании материалов, предлагая идеальную платформу для исследований, требующих надежной пространственной согласованности и минимального влияния границ зерен.

Алюминиевая монокристаллическая подложка (111), 10x10x1 мм, SSP Применение

1. тестирование электроники и полупроводников
- Используется в качестве эталонной подложки при обработке полупроводников для достижения равномерного осаждения слоев за счет использования кристаллической структуры с минимальным количеством дефектов.
- Применяется в качестве калибровочного стандарта в электронной микроскопии, обеспечивая постоянный фон для повышения точности визуализации.

2. Исследование материалов и определение характеристик
- Благодаря точной ориентации служит образцом в рентгеновских и электронно-дифракционных исследованиях для получения подробных кристаллографических данных.
- Часто используется в исследованиях динамики роста кристаллов для оценки стабильности фаз при минимальных структурных изменениях.

Алюминиевая монокристаллическая подложка (111), 10x10x1 мм, упаковка SSP

Подложка упакована в антистатический контейнер с пенопластовой прокладкой и влагостойким уплотнением для снижения риска загрязнения. Он предназначен для хранения в чистых помещениях, обеспечивая минимальное проникновение частиц. Для удовлетворения специальных требований к обработке и транспортировке доступны дополнительные варианты упаковки, включая защитную пленку и индивидуальную маркировку.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Как монокристаллическая структура влияет на производительность подложек в прецизионных приложениях?
A1: Монокристаллическая структура устраняет границы зерен, уменьшая количество дефектных участков, которые могут изменить поведение устройства. Такая однородность способствует применению высокоточных процессов, обеспечивая согласованность в исследованиях и производстве полупроводников.

Q2: Какие тесты контроля качества проводятся на этой подложке?
A2: Контроль качества включает в себя рентгеновскую дифракцию для проверки кристаллографической ориентации и оптическую микроскопию для оценки однородности поверхности. Эти анализы подтверждают соответствие подложки строгим техническим критериям, необходимым для приложений с высоким разрешением.

Q3: Есть ли возможность изменить размеры подложки для конкретных экспериментов?
A3: Да, возможно изменение размеров и толщины подложки. Корректировки вносятся после тщательной проверки процесса, чтобы привести его в соответствие с требованиями эксперимента и обеспечить неизменное качество кристаллов.

Дополнительная информация

Алюминиевые подложки с монокристаллической структурой приобретают все большее значение в передовых исследованиях материалов. Их однородность и минимальная плотность дефектов позволяют исследователям точно анализировать электронные и кристаллографические свойства. Благодаря строгому контролю качества и особым технологиям изготовления такие подложки позволяют глубже понять внутренние свойства алюминия. Эти знания помогают в разработке экспериментальных методик, которые способствуют прогрессу в исследованиях полупроводников и материаловедения.