CY9471 Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (110), 10x10x1 мм, SSP

Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (110), 10x10x1 мм, SSP Описание

Монокристаллическая подложка никеля Ni Substrate (110), 10x10x1 мм, SSP - это высокочистая монокристаллическая никелевая подложка, изготовленная с кристаллографической ориентацией (110). Площадь поверхности 10x10 мм и толщина 1 мм облегчают интеграцию в экспериментальные установки, требующие контролируемой зернистой структуры и минимальных поверхностных дефектов. Подложка подвергается тщательному СЭМ и дифракционному анализу, что обеспечивает точность структуры, которая поддерживает передовые исследования в области материаловедения и обработки полупроводников.

Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (110), 10x10x1 мм, SSP Применение

Электроника и полупроводниковая техника
- Используется в качестве подложки при обработке полупроводниковых пластин для получения определенных эпитаксиальных слоев за счет использования контролируемой ориентации (110).
- Применяется в исследованиях тонкопленочного осаждения для оценки однородности слоя и минимизации несоответствия решетки.

Промышленные испытания материалов
- Служит в качестве калибровочного стандарта для систем измерения шероховатости поверхности для точного анализа металлических пленок.
- Часто используется в исследовательских установках для подтверждения металлургических свойств через согласованную кристаллографическую структуру.

Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (110), 10x10x1 мм, SSP упаковка

Подложка индивидуально упакована в антистатические контейнеры с подушками для уменьшения механических ударов и загрязнений. Она хранится в сухой среде с контролируемой температурой для сохранения характеристик поверхности. Для предотвращения попадания частиц используются защитные материалы и герметичные варианты хранения. Для удовлетворения особых требований к обращению и отслеживанию возможна индивидуальная маркировка и упаковка.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие методы используются для проверки ориентации (110) на подложке?
A1: Для подтверждения кристаллографической ориентации (110) и оценки любых отклонений в структуре решетки используются поверхностная рентгеновская дифракция и сканирующая электронная микроскопия. Эти методы позволяют получить количественные данные о структурной однородности подложки для прикладных исследований.

Q2: Как следует обращаться с подложкой, чтобы избежать загрязнения?
A2: Обращайтесь с подложкой в чистой среде, используя антистатические перчатки и инструменты. Минимизируйте воздействие взвешенных в воздухе частиц, используя специальные контейнеры для хранения и протоколы чистых помещений для поддержания целостности поверхности.

Q3: Можно ли изменить размеры подложки для конкретных применений?
A3: Текущая модель стандартизирована под размер 10x10x1 мм. Для получения нестандартных размеров необходимо проконсультироваться с техническими специалистами SAM для оценки модификации процесса и возможности его осуществления в соответствии с исследовательскими или производственными потребностями.

Дополнительная информация

Монокристаллы никеля обладают определенной кристаллографической ориентацией, что очень важно для экспериментальных исследований в области металлургии и обработки полупроводников. Их постоянная зерновая структура и свойства поверхности облегчают контролируемые исследования формирования эпитаксиальных пленок и поведения металлов при различных условиях обработки.

Исследования монокристаллических подложек способствуют пониманию фазовых переходов и поверхностных явлений в металлах. Эти фундаментальные знания способствуют совершенствованию методов осаждения и направляют разработку передовых материалов для промышленного и академического применения.