CY9475 Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (111), 5x5x1 мм, SSP

Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (111), 5x5x1 мм, SSP Описание

Эта подложка изготовлена из элементарного никеля с кристаллографической ориентацией (111) и имеет размер 5x5x1 мм. Она обладает контролируемой микроструктурой и низкой плотностью дефектов, что облегчает ее использование для обработки полупроводников и анализа материалов. SAM использует количественную рентгеновскую дифракцию и SEM-контроль для подтверждения ориентации и однородности поверхности. Его химически инертные свойства и стандартизированные размеры способствуют достижению воспроизводимых результатов при интеграции устройств и проведении исследований.

Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (111), 5x5x1 мм, SSP Применение

1.Электроника
- Используется в качестве подложки в полупроводниковых приборах для достижения постоянной подвижности носителей за счет контролируемой ориентации (111).
- Применяется в качестве основы для тонкопленочного осаждения в схемах для уменьшения количества дефектов благодаря гладкой поверхности.

2.Исследование
- Служит образцом для кристаллографических исследований в материаловедении для получения точных структурных данных за счет использования свойств равномерной ориентации.

3.Промышленность
- Используется в качестве образца для изготовления тонкопленочных датчиков для улучшения адгезии пленки за счет использования однородной микроструктуры подложки.

Никелевая монокристаллическая подложка Ni Substrate (111), 5x5x1 мм, SSP упаковка

Подложки индивидуально упакованы в антистатические пакеты и уложены в коробки с пенопластовой прокладкой для предотвращения механических повреждений и загрязнений. Она хранится при контролируемой температуре и влажности для сохранения ее структурной целостности. Применяются защитные меры, включая использование пакетов, герметично закрытых инертным газом, и упаковку в чистом помещении. По запросу возможны нестандартные варианты упаковки, такие как вкладыши с отделениями и специальная маркировка.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие методы используются для проверки ориентации (111) подложки?
A1: Рентгеновская дифракция (XRD) и сканирующая электронная микроскопия (SEM) используются для оценки кристаллографической ориентации (111) и подтверждения общей кристалличности подложки во время проверок контроля качества.

Q2: Как определенные размеры 5x5x1 мм влияют на интеграцию с другими процессами?
A2: Стандартизированные размеры обеспечивают совместимость с обычным оборудованием для обработки полупроводников, облегчая равномерное осаждение тонких пленок и интеграцию в установленные технологические процессы.

Q3: Какие методы хранения рекомендуются для сохранения структурных свойств подложки?
A3: Подложка должна храниться в среде с контролируемой температурой и отсутствием влаги с использованием антистатической упаковки. Это минимизирует загрязнение и механические нагрузки, сохраняя кристаллографическую целостность в течение долгого времени.

Дополнительная информация

Никелевые монокристаллические подложки играют ключевую роль в материаловедении для приложений, требующих постоянной кристаллографической ориентации. Эти подложки помогают понять атомно-масштабные взаимодействия на поверхности и служат фундаментальными платформами для осаждения тонких пленок и изготовления устройств. Контролируемая микроструктура способствует воспроизводимым экспериментальным результатам в передовых исследованиях полупроводников.

Никель, как цветной металл, обладает преимущественными инертными свойствами и стабильностью при повышенных температурах. Его монокристаллическая форма минимизирует дефекты по границам зерен, что очень важно для приложений, требующих высокой однородности структуры. Это способствует улучшению характеристик микроэлектронных устройств и аналитических исследований, где важны однородность поверхности и контролируемые свойства.