FE10339 Оксид железа Fe3O4 природный источник Кристаллическая подложка с дефектами (111) 10x10x0.5 мм

Подложка кристаллическая оксида железа Fe3O4 природного происхождения с дефектами (111) 10х10х0,5 мм Описание

Продукт представляет собой кристаллическую подложку оксида железа, состоящую преимущественно из Fe3O4 с преднамеренной дефектной структурой вдоль плоскости (111). Размер 10х10 мм и толщина 0,5 мм обеспечивают совместимость со стандартным аналитическим оборудованием в материаловедческих лабораториях. Дефектная природа способствует локализации активных участков, что облегчает исследования в области катализа и модуляции магнитных свойств. Его природное происхождение способствует изучению поведения материала в различных экспериментальных условиях.

Кристаллическая подложка оксида железа Fe3O4 природного происхождения с дефектами (111) 10x10x0,5 мм Применение

Исследования в области электроники и сенсоров
- Используется в качестве базового слоя в магнитных датчиках для достижения измененного магнитного отклика за счет использования его дефектной (111) структуры.
- Применяется в спинтронике для изменения свойств переноса электронов за счет использования преимуществ доменных вариаций, вызванных дефектами.

Катализ и химическая обработка
- Используется в качестве каталитической поддержки в гетерогенных реакционных системах для повышения плотности активных участков за счет контролируемых дефектов.
- Используется в исследованиях поверхностных реакций для оценки характеристик адсорбции на подложках из природного оксида железа.

Подложка из кристалла оксида железа Fe3O4 природного происхождения с дефектами (111) 10x10x0,5 мм Упаковка

Подложки упакованы в антистатические, мягкие держатели, которые смягчают механические воздействия при транспортировке. Каждая единица помещена в герметичный пакет с инертной атмосферой для предотвращения загрязнения поверхности. Для сохранения физических свойств подложки рекомендуется хранить ее в сухой, стабильной по температуре среде. Возможны нестандартные варианты упаковки, включая индивидуальное разделение и маркировку, в соответствии с требованиями заказчика.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Какие процессы используются для контроля структуры дефектов в подложке?
A1: В процессе производства используется контролируемая термическая обработка и микроскопический анализ поверхности для количественного определения и поддержания плотности дефектов. Такие методы, как сканирующая электронная микроскопия, применяются для обеспечения соответствия распределения дефектов экспериментальным критериям.

Q2: Как ориентация (111) влияет на характеристики материала в исследовательских приложениях?
A2: Кристаллографическая ориентация (111) влияет на выравнивание магнитных доменов и каталитически активных участков. Эта специфическая ориентация позволяет проводить детальные исследования поверхностных реакций и настраивать магнитные свойства в исследовательских средах.

Q3: Какие условия хранения рекомендуются для сохранения целостности подложки?
A3: Подложку следует хранить в сухой, контролируемой по температуре среде с минимальным воздействием загрязняющих веществ. Использование антистатической упаковки и пакетов с инертной атмосферой помогает сохранить характеристики поверхности и профиль дефектов.

Дополнительная информация

Понимание внутренних свойств оксида железа, особенно магнетита (Fe3O4), имеет решающее значение для различных областей исследований, включая катализ и разработку магнитных датчиков. Возникающие в природе дефекты могут существенно изменять электронное и магнитное поведение подложки, обеспечивая ценное понимание взаимосвязи структуры и свойств.

В материаловедении детальный анализ структур дефектов улучшает понимание кинетики реакций и поверхностных взаимодействий. Эта подложка представляет собой модельную систему для оценки влияния кристаллографических несовершенств на характеристики материалов, что лежит в основе достижений как фундаментальных исследований, так и прикладных технологий.