FE10341 Оксид железа Fe3O4 природный источник Кристаллическая подложка с дефектами (001) 5x5x0,5 мм

Оксид железа Fe3O4 природный источник Кристаллическая подложка с дефектами (001) 5x5x0,5 мм Описание

Кристаллическая подложка из оксида железа Fe3O4 Natural Source с дефектами (001) 5x5x0,5 мм состоит из фазы магнетита (Fe3O4) и имеет разработанный профиль дефектов в своей кристаллической решетке. Конкретные размеры 5 мм x 5 мм при толщине 0,5 мм обеспечивают совместимость со стандартными лабораторными установками для изучения поверхности и катализа. Наличие дефектных участков облегчает локализованные исследования каталитического поведения и реакционной способности поверхности, предлагая практическую платформу для исследования характеристик материала в различных условиях.

Подложка из кристалла оксида железа Fe3O4 природного происхождения с дефектами (001) 5x5x0,5 мм Применение

Исследование материалов
- Использование в качестве калибровочного эталона в наноразмерных системах визуализации для оценки изменений контраста, вызванных дефектами, с использованием присущих подложке структурных несовершенств.
- Применяется в качестве тестовой платформы в исследованиях магнитного поведения для оценки влияния кристаллических дефектов на электронно-спиновое взаимодействие.

Каталитические исследования и анализ поверхности
- Используется в качестве основного компонента в экспериментах по каталитическим реакциям для мониторинга скорости реакции за счет использования определенной плотности поверхностных дефектов.
- Применяется в качестве стандартной подложки в установках по химии поверхности для количественной оценки влияния дефектных участков на эффективность реакции.

Подложка из кристалла оксида железа Fe3O4 природного происхождения с дефектами (001) 5x5x0,5 мм Упаковка

Подложка упакована в мягкий антистатический контейнер с пенопластовыми вставками для защиты от механических повреждений и загрязнений. Она хранится в сухом помещении с контролируемой температурой, чтобы предотвратить попадание влаги и химические изменения. Для удовлетворения особых требований к хранению и транспортировке могут быть разработаны нестандартные варианты упаковки, например, герметичные пакеты или индивидуальные маркированные отсеки.

Часто задаваемые вопросы

Q1: Как структура дефектов влияет на производительность подложки из оксида железа в аналитических приложениях?
A1: Дефектная структура создает локальные изменения в реакционной способности поверхности, что может иметь решающее значение для изучения каталитических механизмов и магнитного поведения. Собственные дефекты подложки облегчают исследования кинетики реакции и свойств материала в контролируемых экспериментальных установках.

Q2: Какие конкретные методы определения характеристик используются для проверки профиля дефектов подложки?
A2: Для анализа топологии поверхности и кристаллографической ориентации часто используются сканирующая электронная микроскопия (SEM) и рентгеновская дифракция (XRD). Эти методы позволяют получить детальные изображения и количественные данные о плотности и распределении дефектов для поддержки процессов валидации материалов.

Q3: Можно ли интегрировать подложку со стандартным лабораторным оборудованием для анализа поверхности?
A3: Да, размеры 5x5x0,5 мм совместимы с типичными держателями образцов в различных инструментах для определения характеристик. Определенный рисунок дефектов помогает соотнести структурные аномалии с экспериментальными результатами, способствуя проведению точных и воспроизводимых измерений.

Дополнительная информация

Изучение оксидов железа, в частности магнетита (Fe3O4), занимает центральное место в развитии материаловедения и катализа. Наличие дефектов в кристаллической структуре часто играет важную роль в изменении магнитного и каталитического поведения. Исследователи, занимающиеся поверхностными явлениями, выигрывают от использования подложек, которым присущи изменения в реакционной способности из-за таких дефектов.

В более широком контексте подложки, подобные этой, представляют собой измеримую платформу для изучения взаимодействия между дефектами кристалла и характеристиками материала. Эти данные способствуют разработке улучшенных каталитических систем и поверхностно-активных материалов для различных научных и промышленных применений.